芯片測試可程式上、下層恒溫恒濕試驗箱采用遠紅外鎳合金高速加溫（2KW×2）電加熱器；高溫*獨立系統，不影響低溫試驗、高溫試驗及交變濕熱；溫濕度控制輸出功率均由微電腦演算，以達高精度及效率之用電效益。
| 型號:SPE-80L-2P | 瀏覽量：2035 |
| 更新時間：2023-10-24 | 是否能訂做：是 |
芯片測試可程式上、下層恒溫恒濕試驗箱
溫度控制器：
1、進口TEMI880真彩液晶顯示7寬屏，全中文液晶顯示LＥD觸摸式面板，畫面對談式輸入資料,溫濕度同時可程式控制,背光燈17段可調，曲線顯示，設定值/顯示值曲線
2、控溫儀規格：精 度：0.1℃ 解 析 度：0.1℃
3、測 溫 體：Pt100測試傳感器
4、控制方式：熱平衡調溫調濕方式
5、帶RS232 和RS485 計算機接口實行人機對話、聯機數據傳輸及遠程控制功能
6、配送智能化計算機控制支持軟件系統
7、儀表可顯示設定參數、當前運行程式號、當前運行步及步剩余時間、加熱器工作狀態、加濕器工作狀態、程式運行趨勢、循環剩余次數
8、程式自動運行、停機后自動斷電
9、儀表能實現手動PID控制及PID自整定功能
10、儀表能展現八天程式運行曲線
11、儀表能實行予約自動運行及及時運行
12、儀表能定值控制與程式控制進行無憂切換
13、控制方式與特色：平衡調溫控制系統（BTHC），以P.I.D.方式控制SSR。
可程式上、下層恒溫恒濕試驗箱直銷廠家
芯片測試可程式上、下層恒溫恒濕試驗箱
技術參數：
1.型 號：SPE-80L-2P
2.溫 度 范圍：- 70℃~ +150 ℃
3.濕 度 范圍： 20%~98%RH (可調式)
4.溫度波動度： ±0.5℃ 均勻度：±2℃
5.濕度波動度： ±2%R•H 均勻度：+2%~3%R•H
6.升降溫速率： 0.7~1℃/min
